增加批量增加用例、测试项、设计需求功能
This commit is contained in:
@@ -31,6 +31,7 @@ class AITestController(ControllerBase):
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"children": [
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{
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"name": "外部32MHz时钟布线到HCLKBUF级冲测试",
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"subDescription": "验证外部32MH布线的测试子项描述",
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"subStep": [
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{
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"operation": "配置FPGA逻辑,将外部32MHz晶振输入连接到HCLKBUF缓冲器。",
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@@ -45,6 +46,7 @@ class AITestController(ControllerBase):
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]
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}, {
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"name": "内部10KHz时钟布线到CLKINT缓冲测试",
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"subDescription": "验证内部10KHz时钟布线到CLKINT缓冲的测试子项描述",
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"subStep": [
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{
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"operation": "在FPGA中启用内部10KHz时钟源并将其连接至CLKINT缓冲器。",
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@@ -59,6 +61,7 @@ class AITestController(ControllerBase):
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]
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}, {
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"name": "异常情况下的时钟处理测试",
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"subDescription": "验证异常情况下的时钟处理测试的测试子项描述",
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"subStep": [
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{
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"operation": "断开外部32MHz晶振输入后尝试进行HCLKBUF配置。",
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@@ -76,7 +79,7 @@ class AITestController(ControllerBase):
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}
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]
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return {
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"history":[["我是没有用的",json.dumps(res)]]
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"history": [["我是没有用的", json.dumps(res)]]
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}
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# 这是其他common内容接口
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